Detector Interface voor optische metingen

Van Mierlo Ingenieursbureau heeft elektronica ontwikkeld voor het nauwkeurig bemonsteren van optische halfgeleider detectoren. Hierbij zijn basisprincipes als synchronisatie van optische chopper en meting gecombineerd met meer innovatieve technieken, om het dynamisch bereik te maximaliseren. Gecombineerd met uitgekiende optica die door de klant ontwikkeld is, ontstaat een meetopstelling met uitstekende specificaties tegen een sterk verlaagde kostprijs.

Bij het uitvoeren van metingen aan optische eigenschappen van materialen en coatings, zijn de grote verschillen in energieniveaus een steeds terugkerende uitdaging. Om te beginnen hebben de beschikbare lichtbronnen vaak een zeer golflengte-afhankelijk gedrag en wisselende efficiency. Ook het optische circuit naar de meetsample toe heeft vaak de nodige fysisch bepaalde pieken en dalen. Tenslotte hebben de halfgeleider detectoren een duidelijk golflengte-werkgebied dat ingegeven is door de structuur van de valentiebanden. Om onder invloed van al deze variaties een goed reproduceerbare meting te kunnen doen, is het daarom nodig gedurende een golflengte scan de dynamische gevoeligheid van het systeem aan te kunnen passen.

De detector interface zoals ontwikkeld, is geschikt voor combi detectoren. Dit zijn detectoren die gevoelig zijn in twee aangrenzende golflengte-gebieden. De detectoren worden als een paar aangesloten, één als referentiemeting van de invallende energie en één voor de energie van het meetsample zelf. De elektronica is in staat om middels de in de detector ingebouwde peltierkoeling het feitelijke meetelement op een nauwkeurige verlaagde temperatuur te houden. Om zelfs bij de laagste niveaus een goede signaal/ruis-verhouding te realiseren zijn de detectors uitgerust met een lokaal front end.